鍍層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節，是產品達到優等質量標準的必要手段。
鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。
天瑞X射線鍍層測厚儀對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析，適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件。儀器具有哪些優勢特點呢？
可靠的高性能：測試精度、穩定性高，在提供高質量的同時減少浪費和停機時間。
更高的性價比：制造工藝升級，更具性價比，大大節省使用成本。
前沿檢測技術：高級成垂直光路系統，采用*解譜技術和影像識別算法，實現精準、快速、智能、自動檢測，滿足企業檢測需求。
使用壽命更長：模塊化設計，聚焦節能，搭載自動休眠模式，延長使用壽命。
核心EFP算法：*EFP算法不但對多層測試精準、校準方便，而且解決了多層合金、上下元素重復鍍層及滲層的檢測難題。
四焦一體裝置：搭載高集成四焦技術，可測量最大90mm深度的凹槽高低落差異形件。
上照式設計：上下位機管理分工，可實現對超大型工件的快、準、穩高效測量。
適用性強：精準測量各類金屬鍍層厚度的同時可對電鍍液進行分析。
更新時間：2024-11-12 
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