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EDX2000A能量色散X熒光光譜儀(全自動微區膜厚測試儀)對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態的樣品進行快速對焦精準分析,滿足半導體、芯片及PCB等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。通過自動化的X軸Y軸Z軸的三維移動,雙激光定位和保護系統。
EDX-T能量色散X熒光光譜儀是天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測量技術,研發的一款全新上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準直孔、濾光片自動切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現測試部位的細節,也能呈現出高清廣角視野;自動化的X/Y/Z軸的三維移動,實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態的樣品進行快速對焦精準分析。
Thick800AX熒光鍍層測厚儀珠寶首飾是天瑞集多年的經驗,專門研發用于鍍層行業的一款儀器,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。是一款功能強大的儀器,配上專門為其開發的軟件,在鍍層行業中可謂大展身手。
Thick 8000自動X射線熒光鍍層厚度分析儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的款新型儀器。主要應用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
電鍍層膜厚儀THICK800A是天瑞集多年的經驗,專門研發用于鍍層行業的款儀器,可自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。是款功能強大的儀器,配上專門為其開發的軟件,在鍍層行業中可謂大展身手。
X射線鍍層測厚儀Thick800A是天瑞集多年的經驗,專門研發用于鍍層行業的款儀器,可自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。是款功能強大的儀器,配上專門為其開發的軟件,在鍍層行業中可謂大展身手。
X-ray膜厚儀是天瑞儀器結合20多年的X熒光研發經驗,集中了光電子、微電子、半導體和計算機等多項技術,研制出具有自主知識產權的,性價比優的金屬電鍍層厚度檢測儀。
Thick800型X熒光膜厚測量儀采用X熒光分析技術,可以測定各種金屬鍍層的厚度,包括單層、雙層、多層及合金鍍層等,可以進行電鍍液的成分濃度測定。
臺式X-RAY測厚儀是天瑞儀器銷量好的鍍層測厚儀;儀器采用上照式結構,測試,軟件界面簡潔,測試樣品用時40S,售后服務及時。天瑞儀器Thick800A主要用于檢測金屬電鍍層厚度(如鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銅、鍍鈀……);在企業品質檢測、來料管控方面,得到廣泛的應用。