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X熒光光譜儀是一種精密的分析儀器,其技術原理基于X射線與物質相互作用的熒光效應。當X射線照射到物質上時,物質中的原子會受到激發,內層電子躍遷到高能級,并在退激過程中釋放出具有特定能量的X射線熒光。這些熒光的能量或波長是元素的特征,因此可以用來確定物質的元素組成。X熒光光譜儀的應用領域十分廣泛。在化學分析領域,XRF可以用于快速、準確地測定樣品中的元素含量,適用于固體、粉末、液體等多種形態的樣品。在...
2025-03-11
2025-03-06
2025-03-03
2025-02-26
2025-01-07
2024-12-18
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2024-12-17
2024-12-02
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